光学薄膜表面检测
EPVISION 光学材料/片材表面缺陷视觉在线检测系统
高质量的光学材料，尤其是显示屏幕制造采用的的材料产品，不允许表面存在任何细微的缺陷，依靠人工检测已经无法满足工艺和精度要求。基于机器视觉技术原理的EPVISION光学材料/片材表面缺陷视觉在线检测系统能够实时、高速扫描每个产品，形成高分辨率的片材图像，然后进行实时的图像处理，精准捕捉各种表面缺陷，并实现报警、报表统计、质量分析和分拣等处理。
检测对象
扩散板/扩散膜、感光干膜，偏光膜、棱镜膜、光学级导光板、TAC、OPF、3D膜、AR膜、BEF膜、LCP膜、CPI膜等
检测内容
晶点、凝结点、凹凸点、缺层、划伤、微刮伤、辊印、折痕、褶皱、涂布条纹、漏涂、黑污点、孔洞 、折痕、褶皱、杂质等
缺陷图示
主要特点
* 强大的图像检测功能，针对透明、光面、粗糙、纹理等各种材料的特点、优化相应的检测算法
* Blade Light专利光源技术、更高的光照强度，更精细化与更显著地呈现缺陷形态
* 融合人工智能分类识别模块，较老款产品有效提高90%以上的缺陷检测效果
* 标准嵌入式工业设计，标准进口硬件单元，方便随时升级和扩展
* 全幅面实时动态视频监控，监控和检测并行工作
* 专业化、本土化的软件统计分析功能，提供各种模式的质量分析和统计报告
* 标准工业现场接口设计，提供贴标、喷码等常用电气接口信号
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