服务创造价值、存在造就未来
基于高性能硬件处理专利技术,首创新一代的图像并行检测方法,最高可达640MB/秒的处理速度,检测性能提升一倍以上。
生成式深度架构(生成模型)+判别式深度架构(判别模型)+混合深度架构(智能分类器),融合人工智能分类识别模块,有效提高90%以上的缺陷检测及识别率。
Bladelight光源结构、多谱光学照明、多频并行传感,立体显示缺陷图片,凸显缺陷效果,让产品缺陷无所遁形,极大提高了系统的缺陷检出率和识别率。
基于多行业的成熟应用经验,构建了完善的质量检验标准,具备丰富的缺陷样本库,减少系统调试时间,提升系统检测效果。
标准工业模块化设计,易于安装、维护和升级。同时提供标准接口,可连接PLC,伺服控制器,贴标机,喷码机等设备。